ILT-1000L-SHIBASOKU芝測(cè)ILT-1000L負(fù)荷測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU
SHIBASOKU芝測(cè)ILT-1000L負(fù)荷測(cè)試系統(tǒng)SHIBASOKU
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ILT-1000 L負(fù)荷テストシステム（2000V/100A/200V）
ILT - 1000，MOS - fet的L負(fù)荷的斷開時(shí)的波形進(jìn)行觀測(cè)，設(shè)定的VGATE，IH，白細(xì)胞介素組成的Vsus區(qū)域的保證GO / NO判定檢測(cè)。
特征
Vsus，IDP，TG的判定及可以顯示
短短數(shù)ms（測(cè)量條件的不同，不同）測(cè)試完畢
2站蹺蹺板蹺蹺板
線圈用固定線圈，外觀也測(cè)量也的安裝。
TG監(jiān)視，測(cè)試程序中被的線圈以外被安裝時(shí)，可檢測(cè)
Item／項(xiàng)目 Setup range／設(shè)定範(fàn)囲 Resolution power／分解能
drain electric current（ID） 0.5A～100.0A 0.1A
drain voltage（VD） 10.0V～200.0V 0.1V
gate forward voltage（VGS） 0.0V～30.0V 0.1V
gate reverse voltage（VGR） -0.0V～-30.0V 0.1V
area designated electric current （IH/IL） 0.2A～100.0A 0.1A
Vsus limit（V-GATE） 10V～2000V 1V
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