IKEIDARIKA池田理化透射電子顯微鏡JEM-F200JEM-1400Flash,JEM-F200
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IKEIDARIKA池田理化透射電子顯微鏡JEM-F200
IKEIDARIKA池田理化透射電子顯微鏡JEM-F200
JEM-1400Flash,JEM-F200
JEM-1400Flash應(yīng)用于從生物學(xué)到納米技術(shù)、高分子材料等廣泛領(lǐng)域,應(yīng)用領(lǐng)域正在不斷擴大。特別是在生物學(xué)、高分子材料研究、藥物、病理切片、病毒、熒光顯微鏡等領(lǐng)域,們首先通過標記樣品的低倍觀察來確認組織、結(jié)構(gòu)、位置和視野的整體狀態(tài),并且近年來越來越需要使這一系列的觀察流程更簡單,有良好的吞吐量,高速獲取數(shù)據(jù),EM-1400Flash是一款新型透射電子顯微鏡,速電壓為120 kV,有高靈敏度sCMOS相機、超廣角蒙太奇系統(tǒng)和連接光學(xué)顯微鏡圖像的擴展功能和電子顯微鏡。
特征:高靈敏度sCMOS相機"閃相機"；新功能超廣角蒙太奇系統(tǒng)"限全景(LP)"；新功能光學(xué)顯微鏡圖像鏈接功能"片疊加"；新設(shè)計純白色和LED燈的協(xié)作。
多功能電子顯微鏡JEM-F200大大提高了機械和電氣穩(wěn)定性。除了提高空間分辨率和分析性能外,還配備了一個新的操作系統(tǒng),顧了多用途的可操作性,是一款以還原概念開發(fā)的場發(fā)射透射電子顯微鏡。
特征:
配備新的照射光學(xué)系統(tǒng)"uad-Lens 聚光系統(tǒng)", 4級聚焦透鏡。
成像系統(tǒng)電子束操作功能"級掃描系統(tǒng)"。
視野可以按皮米量級移動。
自動支架插入/取出裝置"PECPORTER"。
也可安裝冷陰極場發(fā)射電子槍。
可同時安裝兩個大口徑硅漂移探測器(DD)。
配備環(huán)保模式。
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