SHIBASOKU芝測TRT-1000過渡熱測試系統(tǒng)TRT - 1000,MOS - fet,晶體管等過渡熱抵抗(θJC)PN junction的順序電壓溫度變化成正比特性利用ΔVF測定,規(guī)定值相比,判定分類的檢測
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TRT - 1000過渡熱測試系統(tǒng)(200V / 50 A
TRT - 1000,MOS - fet,晶體管等過渡熱抵抗(θJC)PN junction的順序電壓溫度變化成正比特性利用ΔVF測定,規(guī)定值相比,判定分類的檢測
特征
因為測定電路上不使用機械繼電器電路結(jié)構(gòu)時間短
前臺測量UNIT為Head橙盒用交換連接的結(jié)構(gòu),的環(huán)境中實現(xiàn)的測量電路
用隱形眼鏡,可以任意設(shè)定測量電流,接觸電阻的測量值表示
根據(jù)測量中各終端波形的PC顯示,波形的觀測容易
自我診斷功能各Bias電路故障容易發(fā)現(xiàn)
drain voltage(VD) 10.0V~200.0V 0.1V
ΔVBE/ΔVSD/ΔVGE/ΔVCE/ΔVF 000.0mV~999.9mV 0.1mV
ΔVBE/ΔVSD/ΔVGE/ΔVCE/ΔVF 0000mV~9999mV 1mV
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